高低溫低氣壓試驗箱也稱為：低氣壓試驗機(jī)、低氣壓（高度）試驗箱、高低溫濕熱低氣壓試驗箱，適用于電工、電子產(chǎn)品及其他產(chǎn)品、零部件及材料進(jìn)行低氣壓試驗的環(huán)境試驗箱設(shè)備，可滿足電工電子產(chǎn)品及軍用裝備等環(huán)境試驗 - 高溫試驗、低溫試驗、溫度變化試驗、低氣壓試驗、溫度高度試驗、低溫/低氣壓綜合試驗、高溫/低氣壓綜合試驗，適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品零部件及材料在高低溫交變環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時的適應(yīng)性試驗。

1.溫度范圍-40~150℃

2.模擬地面到100000英尺高空環(huán)境

3.外部壓力型框體結(jié)構(gòu)和不銹鋼水箱設(shè)計,合理的空氣循環(huán)系統(tǒng)和科學(xué)布局的加熱、制冷系統(tǒng)。

4.高精度觸摸控制系統(tǒng)方便快捷

5.多重保護(hù)裝置,方便維修

6.帶通電測試孔及觀察窗

7.高低溫低氣壓試驗箱工藝流程

鈑金設(shè)計 → 鈑金加工 → 電路裝配 → 冷凍裝配 → 飽壓三天 

→ 水路裝→風(fēng)道調(diào)試→ 溫度調(diào)試→ 濕度調(diào)試→ 運(yùn)行三天

GB/T 10590-1989 低溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件

GB/T 15091-1989 高溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件

GB/T 11159-1989 低氣壓試驗箱技術(shù)條件

GB/T 2423.25-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗

GB/T 2423.26-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗

GJB 150.2-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法 低氣壓（高度）試驗